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使用三同轴法测试射频同轴连接器屏蔽衰减的研究-机电信息2024年08期

使用三同轴法测试射频同轴连接器屏蔽衰减的研究

作者:张嘉培 字体:      

摘要:在实际工作中,通常会对线缆组件进行屏蔽衰减测试,而对其连接器进行屏蔽衰减测试对于系统整体的抗电磁干扰设计有着重要的意义。由于连接器本身耦合长度较小而在实际测试中面临着测试频段下限低于链路下截止频(试读)...

机电信息

2024年第08期